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Zur Charakterisierung von Oberflächen mobiler aquatischer Partikel und poröser Medien nutzen wir Rasterelektronenmikroskopie und Kraftmikroskopie.
REM-Labor
Kraftmikroskop
Foto: Christoph Worsch (Universität Jena)Kraftmikroskop
AFM Multimode Picoforce VEECO INSTRUMENTS, AFM Bioscope II VEECO INSTRUMENTS mit Axio Observer.Z1 ZEISS
Das Rasterkraftmikroskop gibt durch Abrastern mit einem (mikroskopische Nadel) ein dreidimensionales Abbild einer Oberfläche, das sogar höhere Auflösungen als bei der Elektronenmikroskopie erreicht. Durch direkten Kontakt des Cantilevers können auch oberflächenaktive Adhäsionskräfte gemessen werden.
Kai Uwe Totsche, Prof. Dr.
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